ROE-GA01 # CCD基礎(chǔ)與應(yīng)用綜合實驗簡介

CCD原理與應(yīng)用是《光電子學(xué)》課程重要章節(jié)，也是教學(xué)的難點章節(jié)，為此，開發(fā)了CCD基礎(chǔ)與應(yīng)用綜合實驗。該實驗采用模塊化、開放式設(shè)計，直觀展現(xiàn)了線陣、面陣CCD的工作原理，并且設(shè)置了工程實踐常用的測試項目實驗，是學(xué)生認(rèn)識和理解CCD工作原理與應(yīng)用實際的理想教學(xué)實驗系統(tǒng)。

ROE-GA01 # CCD基礎(chǔ)與應(yīng)用綜合實驗內(nèi)容

線陣CCD 驅(qū)動實驗；

線陣CCD 特性測量；

線陣CCD 輸出信號二值化實驗；

工件直徑測量實驗；

角位置測量實驗；

面陣CCD 驅(qū)動實驗及特性測量；

面陣CCD 數(shù)據(jù)采集實驗；

面陣CCD 圖像點運算實驗；

工件二維尺寸測量實驗；

彩色面陣CCD 顏色處理及識別實驗。

實驗知識點

CCD基本工作原理、轉(zhuǎn)移效率、轉(zhuǎn)移損失率、工作頻率、光電轉(zhuǎn)移特性、光譜響應(yīng)、動態(tài)范圍、暗電流、 分辨率、積分時間、CCD驅(qū)動時序、CCD信號處理與 計算機數(shù)據(jù)采集。

實驗效果圖

實驗原理圖